附加功能：

• 370B（分辨率低至1 pA或2μV）的高分辨率DC參數(shù)測量
• 采用371B（高達3,000 V或400 A）的高電壓和電流源
• 內(nèi)置光標測量 - 點，窗口和功能線
• 開爾文感測量
• 掃描測量模式
• 波形比較和平均
• 完全可編程
• 1.44 MB軟盤驅(qū)動器存儲曲線的設(shè)置和位圖
• 使用第三方打印機進行直接硬拷貝
• 半導體的參數(shù)表征
• 故障分析
• 數(shù)據(jù)表生成
• 制造測試
• 過程監(jiān)控和質(zhì)量控制
• 即將到來的檢查
• 組件匹配

泰克370B提供高達20 A / 2,000 V的輸出能力，以及1 pA和50 micro V測量分辨率。370B執(zhí)行集成電路，晶體管，晶閘管，二極管，SCR，MOSFET，電光元件，太陽能電池，固態(tài)繼電器和其他半導體器件的直流參數(shù)表征。它具有按鈕源和測量配置，因此可以輕松地從一個測試更改為下一個測試。