X射線熒光鍍層測厚儀 XAD-4C元素分析儀
X射線熒光鍍層測厚儀 XAD-4C元素分析儀
X射線熒光鍍層測厚儀 XAD-4C元素分析儀
X射線熒光鍍層測厚儀 XAD-4C元素分析儀

X射線熒光鍍層測厚儀-XAD-4C元素分析儀

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聯(lián)系人 楊經理

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發(fā)貨地 廣東省深圳市
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商品參數
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商品介紹
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聯(lián)系方式
品牌: ELITE
重量: 120KG
類型: 鍍層測厚儀
電壓: 220v
產地: 廣東
測量方法: X射線熒光光譜
測量面積: 最小0.0085mm2
特點與優(yōu)勢: 變焦裝置算法:可改變測量距離
鍍層分析范圍: 23層鍍層Li(3)-U(92
功能: 鍍層厚度、RoHS鹵素有害元素
專利: 納米級厚度、微小樣品和凹槽異形
X射線探測器: SDD探測器
成分分析范圍: 24種Al(13)-U(92)
X射線光管: 微焦加強型射線管搭配聚焦裝置
商品介紹

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性能優(yōu)勢:

1. 微小樣品檢測:最小測量面積0.0085mm2

2. 變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達0-90mm

3. 核心EFP算法Al(13)-U(92)元素的成分分析,Li(3)-U(92)元素的涂鍍層檢測,多層多元素,甚至有同種元素在不同層也可精準測量

4. 先進的解譜技術:減少能量相近元素的干擾,降低檢出限

5. 高性能探測器:SDD硅漂移窗口面積50mm2探測器

6. X射線裝置:微焦加強型射線管搭配聚焦裝置

7. 上照式設計:實現對超大樣品或者密集點位進行快、準、穩(wěn)高效率測量

8. 大行程移動平臺:手動XY滑臺100*150mm,自動XY平臺200*200mm

應用領域:涂鍍層分析-RoHS檢測-地礦全元素分析-合金、貴金屬檢測

一六儀器研制的測厚儀獨特的光路交換裝置,讓X射線和可見光攝像同一垂直線,達到視覺與測試定位一體,且X光擴散度?。慌cEFP軟件配合達到對焦、變焦雙焦功能,實現高低、凹凸不平各種形狀樣品的測試;高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍,可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差,同時特征X射線可以穿透測試更厚的表層。

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核心EFP算法:專業(yè)的研發(fā)團隊在AlphaFp法的基礎上,計算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強效應、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法,結合先進的光路轉換技術、變焦結構設計及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),只需要少量的標樣來校正儀器因子,可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。


RoHS領域

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聯(lián)系方式
公司名稱 深圳南山區(qū)美程精密儀器商行
聯(lián)系賣家 楊經理
手機 䝒䝐䝏䝐䝗䝘䝓䝒䝖䝑䝑
地址 廣東省深圳市