XK-DZ200操作簡便，附件齊全，廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域。高精度粗微動調焦機構采用底手位粗微調同軸調焦機構，左右側均可調節(jié)，微調精度高，手動調節(jié)簡單方便，用戶能夠輕松得到清晰舒適的圖像。粗調行程為38mm，微調精度0.002；

           機身采用180×155mm的大尺寸械移動平臺，右手位設置，符合常規(guī)人群操作習慣。用戶操作過程中，便于調焦機構與平臺移動的操作切換，為用戶提供高效的工作環(huán)境。