四川單道掃描光譜儀 ICP光譜 核心部件全球采購 鋼研納克
四川單道掃描光譜儀 ICP光譜 核心部件全球采購 鋼研納克
四川單道掃描光譜儀 ICP光譜 核心部件全球采購 鋼研納克
四川單道掃描光譜儀 ICP光譜 核心部件全球采購 鋼研納克
四川單道掃描光譜儀 ICP光譜 核心部件全球采購 鋼研納克
四川單道掃描光譜儀 ICP光譜 核心部件全球采購 鋼研納克

四川單道掃描光譜儀-ICP光譜-核心部件全球采購-鋼研納克

價(jià)格

訂貨量(個(gè))

¥288000.00

≥1

聯(lián)系人 文先生

钳钻钼钳钻钶钺钺钵钴钵

發(fā)貨地 北京市
進(jìn)入商鋪
掃碼查看

掃碼查看

手機(jī)掃碼 快速查看

在線客服

商品參數(shù)
|
商品介紹
|
聯(lián)系方式
光源 固態(tài)光源
光學(xué)系統(tǒng) 中階梯光柵與棱鏡交叉色散結(jié)構(gòu)
進(jìn)樣系統(tǒng) 一體式炬管
檢測器 PMT
品牌 鋼研納克
商品介紹
鋼研納克Plasma 2000 ICP光譜儀測定藥用玻璃制品中十一種元素
玻璃容器因其透明、美觀、化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定、耐高溫等優(yōu)點(diǎn),一直被包裝界認(rèn)為是的包裝容器。更加純凈的高品質(zhì)藥用玻璃瓶更是飲料、藥品、食品、化妝品等的包裝材料。傳統(tǒng)的藥用玻璃質(zhì)量指標(biāo)及檢測項(xiàng)目只包含理化性能、規(guī)格尺寸及外觀質(zhì)量等項(xiàng)。近兩年,為了與國際產(chǎn)品質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)接軌從而進(jìn)一步提高國內(nèi)藥用玻璃制品的質(zhì)量,化學(xué)成分及有害物質(zhì)浸出含量的檢測也正在成為藥用玻璃制品的重要檢測項(xiàng)目。
采用鋼研納克檢測技術(shù)有限公司生產(chǎn)的Plasma 2000 CCD電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀對客戶的藥用玻璃制品中的As、Fe、Mg、Pb、Sb、Sn、Al、Na、K、Ca、Ba等十一中元素的含量進(jìn)行了準(zhǔn)確。
樣品前處理
準(zhǔn)確稱取樣品0.5000克于100mL鋼鐵量瓶中,加入10mL鹽酸( ρ =1.19g/mL),低溫加熱溶解,冷卻后定容。再將上述溶液稀釋20倍,補(bǔ)加鹽酸(ρ=1.19g/mL)10mL,用于測定除Zr元素以外的元素。
另外準(zhǔn)確稱取樣品0.5000克于100mL聚四氟乙烯燒杯中,加入10mL鹽酸( ρ =1.19g/mL),低溫溶解后加入10mL氫氟酸,微沸,冷卻后定容過濾,用于測定Zr元素。
儀器特點(diǎn)及工作條件
優(yōu)異的光學(xué)系統(tǒng),連續(xù)波長覆蓋;科研級大面積CCD,所有元素一次測定;固態(tài)射頻發(fā)生器,高效可靠,自動調(diào)諧;高效進(jìn)樣系統(tǒng),具備激光燒蝕固體進(jìn)樣功能;軟件操作方便、信息直觀、功能全面;可靠的安全防護(hù)措施
入射功率:1. 10kW;工作氣體:氬氣純度> 99. 95%,冷卻氣13.5L/ min、輔助氣0.5/ min、載氣0.6L/ min;進(jìn)液泵速20rpm;垂直觀測高度10mm;一次讀數(shù)時(shí)間8s;穩(wěn)定時(shí)間20s;進(jìn)樣時(shí)間20s。
方法特點(diǎn)
氫氟酸+高氯酸混酸加熱消解樣品,高氯酸冒煙后鹽酸溶解并定容,溶樣過程簡單;所選譜線干擾小并采用基體匹配消除譜線干擾;線性相關(guān)性好,各被測元素的線性相關(guān)系數(shù)均大于0.999。
Ba校準(zhǔn)曲線
檢測結(jié)果
測得客戶藥用玻璃樣品中各元素含量結(jié)果見下表。
藥用玻璃中As、Fe、Mg、Pb等元素量測定結(jié)果(w/%)
元素 As Fe Mg Pb Sb Sn
Plasma2000 0.0025 0.0141 0.0109 <0.001 <0.001 <0.001
參考值 0.0026 0.0135 0.0103 <0.001 <0.001 <0.001
元素 Al Na Ca K Ba
Plasma2000 2.63 4.20 0.5914 0.4844 0.5506
參考值 2.67 4.20 0.6132 0.4807 0.5563
四川單道掃描光譜儀,ICP光譜儀報(bào)價(jià)
Plasma 1000 單道掃描ICP光譜儀可用于地質(zhì)、冶金、稀土及磁材料、環(huán)境、醫(yī)藥衛(wèi)生、生物、海洋、石油、化工新型材料、核工業(yè)、農(nóng)業(yè)、食品商檢、水質(zhì)等各領(lǐng)域及學(xué)科的樣品分析??梢钥焖?、準(zhǔn)確地檢測從微量到常量約70種元素。
Plasma 1000 單道掃描ICP光譜儀
1. 光路形式:Czerny-Turner型 單道掃描ICP光譜儀
2. 光室恒溫:(30±0.2)℃
3. 光柵類型:離子刻蝕全息平面光柵
4. 分辨率:不大于0.007nm
5. 刻線密度:3600g/mm
6. 高頻發(fā)生器震蕩頻率:40.68MHz 功率穩(wěn)定度:0.1%(長期25℃典型值)
7. 震蕩類型:自激式
8. 進(jìn)樣方式:蠕動泵進(jìn)樣 配有多種霧室(旋流霧室、雙筒霧室和耐氫氟酸霧室)
9. 霧化器:同心霧化器
10. 重復(fù)性:RSD ≤1.0%
11. 穩(wěn)定性:RSD ≤2.0%(2小時(shí))
12. 冷卻氣:10-20L/min
13. 輔助氣:0-1.5 L/min
14. 載氣:0.4-1L/min
15. 尺寸:1550mm×759mm×1340mm(長×寬×高)
16. 重量:240公斤
Plasma 1000 單道掃描ICP光譜儀儀器特點(diǎn):
1. 分析流程全自動化控制,實(shí)現(xiàn)軟件點(diǎn)火、氣路智能控制功能;
2. 輸出功率自動匹配調(diào)諧,功率參數(shù)程序設(shè)定;
3. 優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng),先進(jìn)的控制系統(tǒng),保證峰位定位準(zhǔn)確,信背比優(yōu)良;
4. 極小的基體效應(yīng);
5. 測量范圍寬,超微量到常量的分析,動態(tài)線性范圍5—6個(gè)數(shù)量級;
6. 檢出限低,大多數(shù)元素的檢出限可達(dá)ppb級;
7. 良好的測量精度,穩(wěn)定性相對標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD≤1.5%(5ppm),優(yōu)于國家A級標(biāo)準(zhǔn)(JJG768-2005);
8. Rf輸出功率的范圍750-1500W,輸出功率穩(wěn)定性小于0.1%;
9. 光電倍增管的負(fù)高壓可在0-1000V范圍內(nèi)獨(dú)立可調(diào),可根據(jù)不同元素的不同譜線單獨(dú)設(shè)置條件,和全譜儀器比較有更好的檢出限;
10. 納克儀器采用高屏蔽和良好接地保證操作者的安全;
11. 高精度的光室恒溫系統(tǒng),保證儀器優(yōu)良的長短期精度;
12. 多通道蠕動泵進(jìn)樣,保證儀器進(jìn)樣均勻,工作穩(wěn)定;
13. 使用鈸銅彈片和特殊處理的屏蔽玻璃,在吸收紫外線同時(shí)使儀器輻射小于2V/m(JJG768-2005規(guī)定小于10V/m)。
14. 具有較高的譜線分辨率,能分出Hg313.154和313.183nm雙線譜線,能分出鐵的四重峰。
15. 人性化的軟件設(shè)計(jì),操作方便,終身免費(fèi)升級。功能強(qiáng)大、友好的人機(jī)界面分析軟件,可在測定過程中,進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,方法編制和結(jié)果分析,是真正的多任務(wù)工作軟件;該軟件數(shù)據(jù)處理功能強(qiáng)大,提供了多種方法,如內(nèi)標(biāo)校正、IECS和QC監(jiān)測功能等,可獲得合適的背景扣除點(diǎn)以消除干擾;對輸出數(shù)據(jù)可直接打印或自動生成Excel格式的結(jié)果報(bào)告。
四川單道掃描光譜儀,ICP光譜儀報(bào)價(jià)
鋼研納克Plasma 2000 ICP光譜儀測定鍍銅鱗片石墨中Cu 含量
1 前言
石墨分為鱗片石墨、人造石墨和土狀石墨,其中,鱗片石墨警惕發(fā)育比較完整,石墨化度高,抗氧化能力強(qiáng)。鍍銅石墨改善了銅-石墨之間的界面結(jié)合,復(fù)合材料燒結(jié)性能好,有高的密度與強(qiáng)度。特別是將其作為潤滑減摩材料,不僅承載能力大幅度提高,而且潤滑減摩性能明顯改善。鍍銅后銅含量的多少影響著鍍銅鱗片石墨的材料性能,因此銅含量的測試非常重要,本文使用全譜型電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀Plasma2000對鍍銅鱗片石墨中Cu 含量進(jìn)行測試。
2 結(jié)果與討論
2.1 稱樣量的選擇
鍍銅鱗片石墨中Cu 含量約35%左右,含量較高,因此稱樣量不易過大,稱樣量太小,稱量誤差大,綜合考慮,實(shí)驗(yàn)中選用0.2g稱樣量。
2.2 前處理實(shí)驗(yàn)
鍍銅鱗片石墨中約有百分之六十多的碳,需要先將樣品中的碳除掉,所以應(yīng)該先將樣品灰化,常規(guī)方法是將石墨置于鉑金坩堝中1000℃灼燒至碳全部灼燒完全,但本實(shí)驗(yàn)中樣品中銅含量較高,高溫下可能會和鉑金坩堝合金化而損壞鉑金坩堝,為避免這種情況,本實(shí)驗(yàn)中選用將樣品置于鎳坩堝中,650℃灼燒石墨碳,終實(shí)驗(yàn)表明碳可以被完全除掉。表1是不同前處理方式,終選擇前處理方式1:灰化,堿熔,酸回溶。
表1 前處理選擇
序號 前處理 現(xiàn)象
1 灰化,堿熔,酸回溶 溶清
2 灰化,酸溶 沉淀較多
前處理方式1樣品溶解圖解(堿熔)
前處理方式2樣品溶解圖解(酸溶)
2.3 校準(zhǔn)曲線
以下單位是mg/L
配線,3mlHNO3,5mgNaOH,5mgNa2O2,定容至100ml
表2 校準(zhǔn)曲線配制
元素 Cu
S0 0
S1 1
S2 5
S3 7
S4 10
備注:對于高含量元素測定時(shí),要充分考慮標(biāo)線與樣品基體的一致性,否則會導(dǎo)致結(jié)果偏差較大,見表3。
表3 不同配線結(jié)果對比
樣品 配線方式 Cu溶液中濃度mg/L Cu樣品中實(shí)際含量
1# 水標(biāo)配線 6.1938 30.9692
加等量堿配線 6.4031 32.0155
2# 水標(biāo)配線 7.0980 35.4900
加等量堿配線 7.3224 36.6118
2.4譜線選擇
表3譜線選擇(nm)
元素 儀器 Cu
譜線 Plasma2000 327.396 324.754
2.5 儀器參數(shù)
Plasma2000:功率 1.20 KW,冷卻氣流量 13.0 L/min,輔助氣流量 0.5L/min,載氣流量 0.5 L/min,蠕動泵泵速 20 rpm。玻璃霧化系統(tǒng)和矩管。
3分析結(jié)果
終結(jié)果客戶認(rèn)可。
表4 實(shí)際樣品測試結(jié)果(單位%)
樣品 儀器 Cu
1# Plasma2000 32.0155
Agilent 725 31.50
2# Plasma2000 36.6118
Agilent 725 37.25
四川單道掃描光譜儀,ICP光譜儀報(bào)價(jià)
鋼研納克國產(chǎn)ICP光譜儀測定硅鐵中雜質(zhì)元素含量
(鋼鐵研究總院,北京,100081)
摘要:硅鐵標(biāo)準(zhǔn)樣品于250mL聚四氟乙烯燒杯中,150℃下加入10 mL 王水,并逐滴加入HF,至樣品全部溶解,利用電感耦合等離子體光譜法測定硅鐵中Al、Ca、Cr、Cu、Mn、Ni、P和Ti等8種雜質(zhì)元素含量。優(yōu)化了儀器工作條件,對比了不同元素各譜峰的相互干擾,選擇各元素的合適譜線。雜質(zhì)元素的檢出限在0.33μg/g ~ 22.92μg/g之間,相對標(biāo)準(zhǔn)偏差(RSD,n=11)均小于5%,該方法適用于硅鐵樣品中痕量雜質(zhì)元素的測定。
關(guān)鍵字:硅鐵;電感耦合等離子體光譜法;雜質(zhì)元素
在硅鐵生產(chǎn)中,除了生成氣態(tài)組分外,隨爐料帶入到其他元素會被還原并作為硅鐵產(chǎn)品的組分而流出。因此,硅鐵產(chǎn)品中存在著多種雜質(zhì)元素,如Al、Ca等。隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展,煉鋼工藝的不斷革新和成熟,對硅鐵中雜質(zhì)元素的要求越來越嚴(yán)格。本實(shí)驗(yàn)采用某一硅鐵標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行消解,并在自主研發(fā)的Plasma 2000型全譜電感耦合等離子體光譜儀上對硅鐵標(biāo)準(zhǔn)樣品中的Al、Ca、Mn、Cr、Ti、Cu、P和Ni 等8種雜質(zhì)元素進(jìn)行測定,為硅鐵行業(yè)的持續(xù)發(fā)展保駕護(hù)航。
1 實(shí)驗(yàn)部分
1.1 主要儀器及技術(shù)特點(diǎn)
Plasma 2000電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀(鋼研納克檢測技術(shù)有限公司)。
RF頻率:27.12 MHz
分析功率:1100W
工作氣體: 冷卻氣 13.5 L / min
輔助氣 0.50 L / min
載氣 0.45 L / min
1.2 主要試劑
Al、Ca、Mn、Cr、Ti、Cu、P和Ni標(biāo)準(zhǔn)溶液(國家鋼鐵材料測試中心):1000 μg/ml;
鹽酸:優(yōu)級純,ρ=1.18 g/ml(北京化學(xué)試劑研究所);
硝酸:優(yōu)級純,ρ=1.50 g/ml(北京化學(xué)試劑研究所);
氫氟酸:優(yōu)級純,ρ=1.14 g/ml(北京化學(xué)試劑研究所);
標(biāo)準(zhǔn)樣品:GBW 01432
實(shí)驗(yàn)用水均為超純水,電阻率≥18 MΩ·cm3;
氬氣:純度ωAr > 99.999 %(北京誠維峰氣體有限公司)。
1.3 實(shí)驗(yàn)方法
1.3.1 樣品制備
樣品消解:準(zhǔn)確稱取硅鐵標(biāo)準(zhǔn)樣品1.0000 g,置于250 mL聚四氟乙烯燒杯中,加入10 mL 王水,放在150℃的加熱板上加熱溶解,逐滴加入HF,至樣品全部溶解,取下冷卻至室溫后,定容至100 mL塑料容量瓶中。
隨同試樣做空白實(shí)驗(yàn)。
1.3.2 標(biāo)準(zhǔn)曲線的配制
在7個(gè)100 mL容量瓶中,分別加入Al、Ca、Mn、Cr、Ti、Cu、P和Ni等標(biāo)準(zhǔn)溶液,使得上述元素分別在7個(gè)容量瓶中的含量如下表1所示,加入超純水定容至刻度。
表1 8個(gè)元素的標(biāo)準(zhǔn)曲線
元素 S0 S1 S2 S3 S4 S5
Al 0 0.1% 0.3% 0.5% 0.7% 0.9%
0 1000μg 3000μg 5000μg 7000μg 9000μg
Ca 0 0.03% 0.06% 0.09% 0.12% 0.15%
0 300μg 600μg 900μg 1200μg 1500μg
Cr 0 0.002% 0.005% 0.008% 0.01% 0.015%
0 20μg 50μg 80μg 100μg 150μg
Cu 0 0.03% 0.06% 0.09% 0.12% 0.15%
0 300μg 600μg 900μg 1200μg 1500μg
Mn 0 0.03% 0.06% 0.09% 0.12% 0.15%
0 300μg 600μg 900μg 1200μg 1500μg
Ni 0 0.01% 0.03% 0.05% 0.07% 0.1%
0 100μg 300μg 500μg 700μg 1000μg
P 0 0.005% 0.01% 0.02% 0.05% 0.1%
0 50μg 100μg 200μg 500μg 1000μg
Ti 0 0.01% 0.03% 0.05% 0.07% 0.1%
0 100μg 300μg 500μg 700μg 1000μg
2 結(jié)果與討論
2.1 儀器工作參數(shù)的選擇
儀器調(diào)節(jié)的主要指標(biāo)是靈敏度,通常采用含有Mn元素的波長校正液(5μg/ml)對儀器的載氣流量和炬管準(zhǔn)直進(jìn)行優(yōu)化調(diào)節(jié)實(shí)驗(yàn)。
2.1.1 載氣流量調(diào)節(jié)
以Mn元素(5μg/ml)波長校正液為依據(jù),對新安裝的進(jìn)樣系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)試。實(shí)驗(yàn)得到的載氣流量為:載氣流量 0.45 L/min。
2.1.2 炬管準(zhǔn)直調(diào)節(jié)
以Mn元素(5μg/ml)波長校正液為依據(jù),對新安裝的進(jìn)樣系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)試。實(shí)驗(yàn)得到的炬管準(zhǔn)直為(X:2,Z:2)。
2.2 基體元素干擾和元素譜線選擇
在ICP-OES測定中,基體效應(yīng)對待測元素產(chǎn)生抑制或增強(qiáng)作用,對測定結(jié)果有明顯的影響。在硅鐵雜質(zhì)元素的測定中,由于硅本體已經(jīng)和HF生成SiF4氣體并加熱揮發(fā),因此主要考慮Fe基體對所測定元素的影響。表2給出了8個(gè)雜質(zhì)元素的靈敏譜線和相關(guān)的干擾元素,并終確定各元素的分析譜線。
表2 各元素分析譜線
Table 2 Analytical Line of the elements
元素
Elements 譜線選擇
Choose Line / nm 分析譜線
Analytical Line / nm
Al 308.215,存在V308.211干擾
394.401,附近無干擾,強(qiáng)度低
396.152,存在Mo396.150干擾,強(qiáng)度高 308.215
Ca 396.847,附近無干擾,強(qiáng)度高
422.673,存在Al422.682干擾 396.847
Cr 267.716,附近無干擾,強(qiáng)度高
206.149,附近無干擾,強(qiáng)度低 267.716
Cu 327.396,附近無干擾,強(qiáng)度低
324.754,附近無干擾,強(qiáng)度高 324.754
Mn 257.610,附近無干擾,強(qiáng)度高
259.373,存在Fe259.373干擾 257.610
Ni 231.604,附近無干擾,強(qiáng)度高
216.556,附近無干擾,強(qiáng)度低
341.476,附近無干擾,強(qiáng)度低 231.604
P 177.499,無譜圖
178.287,無譜圖
185.943,觀測不到
213.618,存在Cu213.698干擾,但是觀察譜圖,可以區(qū)分開
214.914,附近無干擾,強(qiáng)度低 213.618
Ti 336.121,附近無干擾,強(qiáng)度高
334.941,附近無干擾,強(qiáng)度低 336.121
2.3 各元素校準(zhǔn)曲線
根據(jù)樣品中各個(gè)元素的含量,將配制好的標(biāo)準(zhǔn)溶液(1.3.2)使用Plasma 2000進(jìn)行校準(zhǔn)測定。以各個(gè)元素的質(zhì)量分?jǐn)?shù)對譜線強(qiáng)度繪制校準(zhǔn)曲線,其線性回歸方程及相關(guān)系數(shù)見表3所示。
3 結(jié)論
采用納克公司生產(chǎn)的Plasma 2000電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀測定硅鐵標(biāo)準(zhǔn)樣品中的Al、Ca、Cr、Cu、Mn、Ni、P、Ti等8種元素,可一次性完成對多種元素的測定,測量準(zhǔn)確度和精密度良好,方法簡便快速,適用于各級檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)進(jìn)行多批次、多項(xiàng)目產(chǎn)品的元素檢測。
參考文獻(xiàn):
[1] GB/T 24194-2009, 硅鐵 鋁、鈣、錳、鉻、鈦、銅、磷和鎳含量的測定 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法[S].北京, 中國鋼鐵工業(yè)協(xié)會, 2009.
[2] 陳琪, 鄭毅, 賈永濤, 等. 硅鐵生產(chǎn)中雜質(zhì)元素的控制[J]. 鐵合金, 2013, 190 (5): 15-17.
[3] 王術(shù)東. ICP-AES法測定硅鐵材料中雜質(zhì)元素[J]. 高等函授學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版), 2011, 24 (1): 58-62.
[4] 亢德華, 王鐵, 于媛君, 等. 電感耦合等離子體質(zhì)譜法測定硅鐵中雜質(zhì)元素[J]. 冶金分析, 2013, 33 (10): 64-68.
[5] 蔡紹勤, 李正庸. 原子吸收光譜法測定純硅中鐵、錳、鎂、銅、鉻、鎳和鋁[J]. 冶金分析, 1981, 01 (1): 33-36.
-/hbahabd/-
聯(lián)系方式
公司名稱 鋼研納克檢測技術(shù)股份有限公司
聯(lián)系賣家 文先生 (QQ:415905311)
電話 钺钳钺-钸钹钳钻钹钳钻钻
手機(jī) 钳钻钼钳钻钶钺钺钵钴钵
傳真 钺钳钺-钸钹钳钻钹钳钼钼
地址 北京市