深圳銳誠(chéng)真空技術(shù)有限公司主營(yíng)：真空箱氦檢設(shè)備,sf6微水儀,sf6檢漏儀,LNG抽真空設(shè)備
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真空箱式氦檢漏設(shè)備

在電力行業(yè)高壓環(huán)網(wǎng)柜生產(chǎn)中的應(yīng)用

真空箱式氦檢漏設(shè)備適用對(duì)充氣環(huán)網(wǎng)柜（以下簡(jiǎn)稱工件）進(jìn)行真空法檢漏。同步對(duì)工件和真空箱抽真空，使工件內(nèi)外壓差不大0.04Mpa，對(duì)被檢工件充注氦氣，應(yīng)用真空箱法進(jìn)行氦質(zhì)譜氣密性檢測(cè)，通過(guò)該裝置判斷出被檢工件中的合格與不合格。

一、內(nèi)腔表面光潔度（現(xiàn)設(shè)備腔體都是用的熱板）固光潔度鏡面處理達(dá)到“▽7”

做為設(shè)備驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。

二、腔體外部面板烤漆處理確保色澤均勻、亮度提升，加強(qiáng)筋及焊口、焊接時(shí)殘留焊瘤、焊渣、上漆時(shí)進(jìn)行多面拋光研磨處理。

三、設(shè)備腔體部分選用SS304板10mm厚，腔體法蘭選用SS304板成活30mm.加強(qiáng)筋選用30mm*120mm.門面板成活15mm.確保腔體部分厚實(shí)、美觀。以此數(shù)據(jù)作為驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。

四、設(shè)備外圍護(hù)網(wǎng)選用40mm*40mm*5mm方管。網(wǎng)格選用φ8mm*8mm確保護(hù)欄厚實(shí)美觀。（漆色執(zhí)行用戶技術(shù)要求外觀顏色）

七、控制柜操作臺(tái)材料選用2.5mm板材。噴塑涂層外觀噴涂后距離300mm.自然光或40W日光燈下視線與涂層45°角觀察表面平整、光亮、流平性好。桔紋手感不明顯。不得有流痕，麻坑、縮孔、顏料se斑等缺陷，厚度50-80μm。操作臺(tái)抽屜進(jìn)出順滑、平穩(wěn)。依據(jù)以上作為驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。

八、工件小車托盤（見設(shè)備圖紙作為驗(yàn)收依據(jù)）

期望大家在選購(gòu)氦檢漏設(shè)備時(shí)多一份細(xì)心，少一份浮躁，不要錯(cuò)過(guò)細(xì)節(jié)疑問(wèn)。想要了解更多氦檢漏設(shè)備的相關(guān)資訊，歡迎撥打圖片上的熱線電話?。?！

深圳銳誠(chéng)真空技術(shù)多年技術(shù)經(jīng)驗(yàn)，為您解決后顧之憂，歡迎您撥打電話~~~

氧撿漏簡(jiǎn)介

氨敏紙檢漏 將被檢零部件內(nèi)腔抽空后，充入壓力為(1.5～2)×105帕的氨氣，在表面處貼上酚藍(lán)的試紙或試布，用透明膠紙封住，試紙或試布上有藍(lán)斑點(diǎn)出現(xiàn)，即是漏孔的位置。用這種方法可檢漏率為7×10-4～106帕·升/秒的漏孔。

熒光檢漏 將被檢的零部件浸入熒光粉的有色溶液中，經(jīng)一定時(shí)間后取出烘干，漏孔處留有熒光粉，在器壁另一面用紫外線照射，發(fā)光處即為漏孔位置。

高頻火花檢漏 這種方法僅適用于玻璃真空系統(tǒng)。先將系統(tǒng)抽成真空，高頻火花檢漏儀的火花端沿著玻璃表面移動(dòng)，火花集中成束形成亮點(diǎn)處即是漏孔位置。

放電管檢漏 將放電管接到系統(tǒng)上，并將系統(tǒng)抽成中真空，在高頻電壓作用下系統(tǒng)中殘存氣體（空氣）產(chǎn)生紫紅色或玫瑰色輝光放電。若在系統(tǒng)表面處涂上酒精或其他易揮發(fā)的碳?xì)浠衔?，有藍(lán)色放電顏色出現(xiàn)之處便是漏孔位置。

以上就是關(guān)于氦質(zhì)譜檢漏設(shè)備的相關(guān)內(nèi)容介紹，如有需求，歡迎撥打圖片上的熱線電話！

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質(zhì)譜法基本原理

質(zhì)譜,又稱質(zhì)譜法（mass spectrometry,MS），是通過(guò)不同的離子化方式，將試樣（原子或分子）轉(zhuǎn)化為運(yùn)動(dòng)的氣態(tài)離子，并按照質(zhì)荷比（m/z）大小進(jìn)行分離檢測(cè)的分析方法，是一種與光譜并列的譜學(xué)方法。根據(jù)質(zhì)譜圖上峰的位置和相對(duì)強(qiáng)度大小，質(zhì)譜可對(duì)無(wú)機(jī)物、有機(jī)物和生物大分子進(jìn)行定性和定量分析。Thomson JJ于1906年發(fā)明質(zhì)譜，并運(yùn)用于發(fā)現(xiàn)非性同位素和無(wú)機(jī)元素分析。20世紀(jì)40年代以后開始用于有機(jī)物分析。Thomson JJ于1906年發(fā)明質(zhì)譜，并運(yùn)用于發(fā)現(xiàn)非性同位素和無(wú)機(jī)元素分析。20世紀(jì)40年代以后開始用于有機(jī)物分析。80年代初期，快原子轟擊電離的應(yīng)用，是質(zhì)譜更好的運(yùn)用于生物化學(xué)大分子。90年代以來(lái)，隨著電噴霧電離和基質(zhì)輔助激光解吸電離的應(yīng)用，已形成生物質(zhì)譜學(xué)一新學(xué)科[1]。目前，質(zhì)譜法已經(jīng)日益廣泛的應(yīng)用于原子能、化學(xué)、電子、冶金、、食品、陶瓷等工業(yè)生產(chǎn)部門，農(nóng)業(yè)科學(xué)研究部門，以及物理、電子與離子物理、同位素地質(zhì)學(xué)、有機(jī)化學(xué)等科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域[2]。

質(zhì)譜法基本原理

質(zhì)譜法的基本原理是試樣分子或原子在離子源中發(fā)生電離，生成各種類型帶電粒子或離子，經(jīng)加速電場(chǎng)的作用獲得動(dòng)能形成離子束；進(jìn)入質(zhì)量分析儀，在其中再利用帶電粒子在電場(chǎng)或磁場(chǎng)中運(yùn)動(dòng)軌跡的差異，將不同質(zhì)荷比的離子按空間位置或時(shí)間的不同而分離開；然后到達(dá)離子將離子流轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)，得到質(zhì)譜圖。

質(zhì)譜儀基本結(jié)構(gòu)，化合物的質(zhì)譜是由質(zhì)譜儀測(cè)得的。質(zhì)譜儀是使分析試樣離子化并按質(zhì)荷比大小進(jìn)行分離、檢測(cè)和記錄的儀器。一般質(zhì)譜儀由進(jìn)樣系統(tǒng)，離子源，質(zhì)量分析儀，離子及信號(hào)放大記錄系統(tǒng)組成